精彩回顾 I 纳米多孔材料前沿发展论坛

发布日期:2025-08-22 14:12:01   来源 : 爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司    浏览量 :0
爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司 发布日期:2025-08-22 14:12:01  
0

2026西湖龙井茶官网DTC发售:茶农直供,政府溯源防伪到农户家 

2025810日至13日,由内蒙古大学与复旦大学联合主办的纳米多孔材料前沿发展论坛在呼和浩特巨华国际大酒店隆重举行。本次论坛以孔中看世界——无尽的科学前沿为主题,聚焦介观尺度传质/电子输运、多级孔材料可控制备与表征、面向碳中和的介孔材料应用等前沿科学议题,深入探讨了该领域的挑战与机遇。本次盛会吸引了来自全球各地的400余位专家学者踊跃参与,汇聚了包括8位中国科学院院士、3位外籍院士、百余位领域专家,阵容强大,充分体现了论坛的学术高度与影响力。

1. 纳米多孔材料前沿发展论坛大会合影


在本次会议上,爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司鞠焕鑫博士受邀在多级孔材料可控制备与表征分会,作了《材料表界面研究中的挑战与策略》专题报告。报告首先系统总结了表面分析技术的特点,然后分析了材料表界面研究中面临着的多重挑战,例如样品对空气敏感、表面组分分布不均、深度分析中离子刻蚀引发的化学态破坏,以及原位测试面临的真空环境限制。鞠博士的报告针对材料表界面特性研究的核心需求,从空间分辨、深度解析和原位表征三个维度展开,系统分享了爱发科费恩斯在表面分析技术的最新进展,特别是基于Cr KαX射线光电子能谱(HAXPES)技术开发,可将分析深度扩展至30纳米,为埋层结构的无损深度分析提供了创新方法。


2. 《材料表界面研究中的挑战与策略》报告照片


在展会期间,爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司的展台也吸引了众多与会专家学者及高校师生的驻足交流。许多老师与同学对展示的表界面分析技术表现出浓厚兴趣,围绕XPSX射线光电子能谱)、HAXPES(硬X射线光电子能谱)、AES(俄歇电子能谱)和TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱)等先进表征方法的原理、应用及最新研究进展展开了热烈讨论。


3. 爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司展台照片

关于我们:

ULVAC-PHI是全球领先的超高真空表面分析仪器供应商。我们致力于开发和制造先进的表面分析仪器,包括XPSAESTOF-SIMS以及UPS/LEIPS/REELS/离子源等相关配件,积极推动表面分析应用技术的发展,促进表面分析技术与其他学科的融合,为推动表面分析技术的大力发展和应用拓展而不懈努力。


以上内容来自爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司推送
订阅
关于我们
热门推荐
合作伙伴
免责声明:本站部分资讯来源于网络,如有侵权请及时联系客服,我们将尽快处理
支持 反馈 订阅 数据
回到顶部